15 - ASIC 2022 dielectric functions [ID:43563]
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Teil einer Videoserie :
Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Presenters

Prof. Dr. Wolfgang Heiß Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugänglich über

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Dauer

01:23:02 Min

Aufnahmedatum

2022-07-20

Hochgeladen am

2022-07-20 20:46:04

Sprache

en-US

Lecture about dielectric functions used in Ellipsometry. 

Tags

carrier concentration resistivity, mobility, defect concentration, optical properties